CdWO4单晶是具有良好的综合闪烁性能的单斜晶系，属于钨铁矿型结构。与其他无机闪烁晶体相比，CdWO4单晶体具有较高的发光效率，较短的余辉时间，较大的X射线吸收系数，较强的抗辐射损伤性，较高的材料密度以及没有吸湿性。CdWO4晶体是核仪器检测，γ相机，XCT断层扫描成像仪和其他光电检测设备的核心组件。CdWO4晶体的广泛应用大大提高了医用XCT的工作性能和安全设备的效率。因此已广泛用于核医学成像，安全检查，工业计算机断层扫描（CT），石油测井，高能物理等技术领域，尤其是在医学X射线领域 CT，集装箱检查系统具有非常重要的应用。
主要性能参数 | |
晶体结构 | 单斜结构 |
晶格常数 | a=5.029 Å；b=5.859 Å；c=5.074 Å α=γ=90°，β=91.47° |
密 度 | 7.9g/cm3 |
熔点 | 1325℃ |
莫氏硬度 | 4-4.5 |
热膨胀系数 | 6.39×10-6/k @<010> |
折射率 | 2.3 @633nm (室温) |
透过范围 | 0.25～5 μm |
尺寸 （mm） | 10x10，15x15，20x15，20x20， |
厚度 | 0.5mm，1.0mm |
抛光 | 单面或双面 |
晶向 | <010>, <001> |
晶面定向精度: | ±0.5° |
边缘定向精度: | 2°（特殊要求可达1°以内） |
斜切晶片 | 可按特定需求，加工边缘取向的晶面按特定角度倾斜（倾斜角1°－45°）的晶片 |
Ra: | ≤5Å（5µm×5µm） |
包装 | 100级洁净袋，1000级超净室 |